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              FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM

              更新時間:2023-09-29

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              廠商性質:代理商

              生產地址:

              簡要描述:
              FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM,能量色散X射線熒光光譜儀,自動進行材料自動分析和鍍層厚度的無損測量,采用ISO 3497和ASTM B 568標準;
              品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
              產地類別進口應用領域環保,生物產業,制藥,綜合

              FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM

              菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY特點

              • 能量色散X射線熒光光譜儀,自動進行材料自動分析和鍍層厚度的無損測量,采用ISO 3497和ASTM B 568標準;

              • XDLM的最小測量點: 0.1毫米; XDL的最小測量點:約 0.2毫米

              • 鎢X射線管或鎢微焦點管(XDLM)作為X射線源

              • 經驗證可用于快速測量的比例接收器探測器

              • 固定或可更改的準直器

              • 固定或可自動切換基本濾片

              • 可選擇手動或可編程的XY載物臺;

              • 開槽箱體設計用于測量大的印刷電路板

              • 通過攝像頭可輕松固定測量位置

              • 經過認證的全面保護設備;


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